NS3000 インライン外観検査装置 



機械部品、FPC、実装基板、印刷物等のインライン検査に最適
ワークの位置、回転補正付きで、ラフな位置合せでも検査可能


 検査対象:機械部品、FPC等の各種基板、実装基板、印刷物、半導体、ウェハー、液晶等色々な検査に
         使用できます。 注)検査対象により、搭載ソフトが異なります。


 
検査方式:学習方式

 
検出欠陥:正常品と比較し、異なる所を欠陥候補として検出した後、人工知能が実際の欠陥を抽出

 
基板サイズと最小検出欠陥500万画素(2500×2000画素)カメラ使用時の値

最小検出欠陥(μm) 120 100 80 40 20
検査対象サイズ(mm) 300×240 250×200 200×160 100×80 50×40


 タクト:
0.1〜1秒程度(使用カメラにより変化)

 
使用カメラ:30万画素(640×480画素)から500万画素(2500×2000画素)カメラまで検出対象により選択

 外部取合:デジタルI/O、RS-232C

 

バリの検査 キーボードの検査

イヤーホーンの検査

                                


ナノシステム株式会社

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