NS3000 インライン外観検査装置
機械部品、FPC、実装基板、印刷物等のインライン検査に最適
ワークの位置、回転補正付きで、ラフな位置合せでも検査可能
検査対象:機械部品、FPC等の各種基板、実装基板、印刷物、半導体、ウェハー、液晶等色々な検査に
使用できます。 注)検査対象により、搭載ソフトが異なります。
検査方式:学習方式
検出欠陥:正常品と比較し、異なる所を欠陥候補として検出した後、人工知能が実際の欠陥を抽出
基板サイズと最小検出欠陥:500万画素(2500×2000画素)カメラ使用時の値
最小検出欠陥(μm) | 120 | 100 | 80 | 40 | 20 |
検査対象サイズ(mm) | 300×240 | 250×200 | 200×160 | 100×80 | 50×40 |
タクト:0.1〜1秒程度(使用カメラにより変化)
使用カメラ:30万画素(640×480画素)から500万画素(2500×2000画素)カメラまで検出対象により選択
外部取合:デジタルI/O、RS-232C
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ナノシステム株式会社
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