ナノシステム株式会社
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NanoHunter は弊社の登録商標です。

サンプル解析のご案内


弊社の外観検査装置、 測長システム、画質改善ソフト「IES-1000」、および、
汎用画像処理ソフト「NS2K-Pro/Lt」で対応可能かどうかご確認いただくために、
サンプル解析を承っております。
実際のサンプルか写真または画像データをお送り下さい。
弊社にて確認テストを行い、解析結果をご返却いたします。
ご依頼の際には、お手数ですが下記項目の解析内容を添えていただき、弊社宛に
郵送またはメールでお送り下さい。
確認のためのサンプル解析は
無料です。お気軽にご依頼下さい。

<解析内容>
  ・対象物
  ・計測内容
  ・視野サイズ
  ・要求精度
  ・処理時間

<送り先>
ナノシステム株式会社
〒600-8815 京都市下京区中堂寺粟田町93
         京都リサーチパーク4号館423号室
TEL 075-406-6215  FAX 075-406-6216
E-mail:y.nagai@nanosystem.jp


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